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kalmason

History

(History / Patent / Author / Research / Research paper / Development / Result)

 [특허] 펑션테스터및그의구동방법 1000909010000

 

표시번호 사항
1번
출원 연월일 : 1992년 12월 11일 출 원 번 호 : 10-1992-0024005
공고 연월일 : 1995년 06월 26일 공 고 번 호 : 10-1995-0006990
특허결정(심결)연월일 : 1995년 09월 21일 청구범위의 항수 : 10
유 별 : H05K 1/14
발명의 명칭 : 펑션테스터및그의구동방법
존속기간(예정)만료일 : 2012년 12월 11일

1995년 10월 26일 등록

2번
(소멸등록)  
등록원인일자 : 2000년 06월 27일 등 록 원 인 : 등록료불납

2001년 03월 06일등록

 

데이터 화일로부터 1스텝의 데이타를 읽어 와서 상기한 데이터에 따라 스위치 보드와 멀티플렉서 보드와 측정 보드를 구동시킴으로써 픽스처에 연결되어 있는 검사 대상물의 기능 검사를 수행하는 컴퓨터와;컴퓨터와 픽스처 사이에 연결되어 픽스처 내부의 신호를 절환시킴으로써 회로적으로 스위칭 기능을 제공하는 스위치 보드와;컴퓨터와 픽스처 사이에 연결되어 픽스처의 다수의 검사핀 중에서 하나를 선택하여 이를 측정 보드와 연결시키는 멀티플레서 보드와; 컴퓨터와 멀티플렉서 보드 사이에 연결되어 멀티플렉서 보드로부터 입력되는 신호의 주파수와 크기를 측정하여 컴퓨터로 전송하는 측정보드로 구성되어; 확장카드의 형태로 개인용 컴퓨터에 탑재함으로써 설치비용이 크게 들지 않으며 컴퓨터를 사용하여 펑션 테스트를 실시함으로써 사용자가 보다 용이하게 PWA의 기능을 검사할 수 있는 펑션 테스터 및 그의 구동방법에 관한 것이다.

 

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청구항1

데이터 화일로부터 1스텝의 데이터를 읽어 와서 상기한 데이터에 따라 스위치 보드와 멀티플렉서 보드와 측정 보드를 구동시킴으로써 픽스처에 연결되어 있는 검사 대상물의 기능 검사를 수행하는 컴퓨터와 ; 컴퓨터와 픽스처 사이에 연결되어 픽스처 내부의 신호를 절환시킴으로써 회로적으로 스위치 기능을 제공하는 스위치 보드와 ; 컴퓨터와 픽스처 사이에 연결되어 픽스처의 다수의 검사핀 중에서 하나를 선택하여 이를 측정 보드와 연결시키는 멀티플렉서 보드와 ; 컴퓨터와 멀티플렉서 보드 사이에 연결되어 멀티플렉서 보드로 부터 입력되는 신호의 주파수와 크기를 측정하여 컴퓨터로 전송하는 측정 보드로 이루어진 것을 특징으로 하는 펑션 테스터.

2

제1항에 있어서, 상기한 스위치 보드의 구성은 어드레스 신호(A3∼A15)와 사용자의 번지입력 신호(S3∼S15)의 동일 여부를 비교하여 그 결과를 출력하는 비교기(21)와, 컴퓨터(1)이 입출력독출 신호선(/IOR)과 리세트 신호선(RES)과 입출력쓰기 신호선(/IOW)와 어드레스 버스(A0∼A2)에 입력단이 연결되어 있는 버퍼(22)와, 비교기(21)의 출력신호(P=Q)에 의해 칩선택된 뒤에 버퍼(22)를 거쳐서 입력되는 어드레스 신호(A0∼A2)를 디코딩하는 디멀티플렉서(23)와, 비교기(21)의 출력신호(P=Q)에 의해 칩선택된 뒤에 입출력독출 신호(/IOR)에 따라 데이터의 전송방향을 결정하는 양방향 버퍼(24)와, 디멀티플렉서(23)의 출력신호와 입출력독출 신호(/IOR)에 의해 칩선택된 뒤에 픽스처(5)의 신호(I0∼I2)를 양방향 버퍼(24)로 전송하는 버퍼(25)와, 입출력쓰기 신호(/IOW)에 의해 인에이블된 뒤에 디멀티플렉서(23)의 출력신호를 반전하여 출력하는 NOR 게이트(G261∼G268)와, NOR 게이트(G261∼G268)의 출력신호에 따라 양방향 버퍼(24)의 출력신호를 저장하는 래치(271∼278)와, 래치(271∼278)의 출력신호(Q1∼Q8)에 따라 선택되어 픽스처(5)의 스위칭 신호[(SWC211, SWA211, SWB211)∼(SWC218, SWA218, SWB218), ∼, (SWC281, SWA281, SWB281)∼(SWC288, SWA288, SWB288)]를 전환시키는 릴레이[(R211∼R218), ∼, (R281∼R288)]로 이루어지는 것을 특징으로 하는 펑션 테스터.

3

제1항에 있어서, 상기한 멀티플렉서 보드의 구성은 어드레스 신호(A0∼A15)와 사용자의 번지입력 신호(S0∼S15)의 동일 여부를 비교하여 그 결과를 출력하는 비교기(31)와, 비교기(31)의 출력신호(P=Q)에 의해 칩선택된 뒤에 입출력독출 신호(/IOR)에 따라 데이터의 전송방향을 결정하는 양방향 버퍼(32)와, 비교기(31)의 출력신호(P=Q)와 입출력독출 신호(/IOR)에 의해 칩선택되어 릴레이의 동작에 관한 정보신호를 양방향 버퍼(32)로 전송하는 버퍼(33)와, 비교기(31)의 출력신호(P=Q)와 입출력쓰기 신호(/IOW)를 반논리합시켜 출력하는 NOR 게이트(G31)와, NOR 게이트(G31)의 출력신호에 따라 양방향 버퍼(32)의 출력신호를 저장하는 래치(34)와, 래치(34)의 출력신호(Q1∼Q7)를 디코딩하는 디멀티플렉서(35)와, 디멀티플렉서(35)의 출력신호에 따라 선택되어 구동함으로써 픽스처(5)의 핀신호(P31∼P3n) 중의 하나를 측정 보드에 연결시키는 릴레이(R371∼R37n)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 펑션 테스터.

4

제1항에 있어서, 상기한 측정 보드의 구성은 컴퓨터의 시스템 버스로 부터 출력되는 신호에 따라 측정 보드 내의 동작에 필요한 로컬 버스 신호를 생성하는 경로 지정부(41)와, 경로 지정부(41)의 출력신호에 따라 멀티플렉서 보드(3)의 출력신호를 감쇠시키는 감쇠 선택부(42)와, 감쇠 선택부(42)의 출력신호를 정형화시키는 파형 정형부(43)와, 파형 정형부(43)의 출력신호가 AC신호일 경우에 주파수를 측정한 뒤에 이를 컴퓨터로 전송하는 주파수 측정부(44)와, 파형 정형부(43)의 출력신호가 DC 신호일 경우에 크기를 측정하고 AC 신호일 경우에 RMS 크기를 측정한 뒤에 이를 디지틀 신호로 변환하여 컴퓨터로 전송하는 크기 측정부(45)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 펑션 테스터.

5

제4항에 있어서, 상기한 경로 지정부(41)의 구성은 어드레스 신호(A3∼A15)와 사용자의 번지입력 신호(S0∼S12)의 동일 여부를 비교하여 그 결과를 출력하는 비교기(411)와, 컴퓨터의 입출력독출 신호선(/IOR)와 인에이블 신호선(/SBHE)과 입출력쓰기 신호선(/IOW)과 리세트 신호선(RES)과 어드레스 신호(A0∼A2)를 로컬 버스로 전송하는 버퍼(412)와, 비교기(411)의 출력신호(P=Q)에 의해 인에이블된 뒤에 인에이블신호(/SBHE)와 어드레스 신호(A0)를 전송하는 OR 게이트(G411,G412)와, OR 게이트(G411,G412)의 출력신호에 의해 칩선택된 뒤에 입출력독출 신호(/IOR)에 따라 데이터의 전송방향을 결정하는 양방향 버퍼(413,414)와, 비교기(411)의 출력신호(P=Q)에 의해 칩선택되어 어드레스 신호(A0∼A2)를 디코딩하는 디멀티플렉서(415)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 펑션 테스터.

6

제4항에 있어서, 상기한 감쇠 선택부(42)의 구성은 경로 지정부(41)의 선택 신호선(/M403)과 입출력쓰기 신호선(/MIOW)에 입력단자가 연결되어 있는 NOR 게이트(G421)와, NOR 게이트(G421)의 출력신호에 따라 데이터 신호(MD8,MD9)를 저장하는 래치(421)와, 래치(421)의 출력신호(Q1,Q2)를 디코딩하는 디멀티플렉서(422)와, 디멀티플렉서(422)의 출력신호(Y0∼Y3)에 따라 구동되는 발광다이오드(D421∼D423)와, 디멀티플렉서(422)의 출력신호(Y0∼Y3)에 의해 선택되어 구동되는 릴레이(R421∼R423)와, 렐레이(R421∼R423)에 연결되어 릴레이를 통과하는 신호를 감쇠시키는 가변저항(V421∼V423)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 펑션 테스터.

7

제4항에 있어서, 상기한 파형 정형부(43)의 구성은, 감쇠 선택부(42)의 출력단자에 한쪽단자가 연결되어 있는 저항(R431)과, 저항(R431)의 다른 한쪽단자와 접지 사이에 병렬로 연결되어 있는 커패시터(C431) 및 저항(R432)과, 서로 캐소드가 접속된 형태로 저항(R431)의 다른 한쪽단자와 접지 사이에 직렬로 연결되어 있는 제너 다이오드(D431∼D432)와, 저항(R431,R432)의 접속점에 비반전 입력단자가 연결되어 있고 출력단자에 반전 입력단자가 연결되어 있는 연산 증폭기(O431)와, 연산 증폭기(O431)의 출력단자와, 접지 사이에 연결되어 있는 저항(R433)으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 펑션 테스터.

8

제4항에 있어서, 상기한 주파수 측정부(44)의 구성은 경로 지정부(41)의 출력신호선(/M404,/MIOR)에 입력단자가 연결되어 있는 OR 게이트(G441)와, 발진부(441)와, 발진부(441)의 출력신호를 일정한 비율로 분주시키는 분주부(442)와, 분주부(442)의 출력신호 중에서 하나의 신호를 선택하기 위한 스위치(S441,S442)와, 분주부(442)의 출력단자와 스위치(S441,S442)의 접속점에 입력단자가 연결되어 있는 AND 게이트(G443)와, AND 게이트(G443)의 출력단에 입력단이 연결되어 있고 OR 게이트(G441)의 출력단자에 제어단이 연결되어 있는 버퍼(G444)와, 파형 정형부(43)의 출력신호에 포함되어 있는 노이즈 신호를 제거하기 위한 커패시터(C441) 및 저항(R441)과, 커패시터(C441)와 저항(R441)의 접속점에 반전 입력단자가 연결되어 있고 비반전 입력단자는 접지되어 있는 연산 증폭기(O441)와, 연산 증폭기(O441)의 출력신호를 정류하기 위한 다이오드(D441)와, 다이오드(D441)의 출력신호를 정형화시키기 위한 저항(R442,R443) 및 제너 다이오드(D442)와, 제너 다이오드(D442)의 정형화된 신호를 스위치(S441,S442)의 출력신호와 논리합시키는 OR 게이트(G442)와, OR 게이트(G442)의 출력신호를 분주시키는 분주부(443)와, 지정부(41)의 출력신호(/M404,/MIOR)에 의해 칩선택되어 분주부(413)의 출력신호를 로컬 버스로 전송하는 버퍼(444)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 펑션 테스터.

9

제4항에 있어서, 상기한 크기 측정부(45)의 구성은 경로 지정부(41)의 출력신호(/M402,/MIOW)에 입력단이 연결되어 있는 OR 게이트(G451)와, 경로 지정부(41)의 출력신호(/M400,/MIOW)에 입력단이 연결되어 있는 NOR 게이트(G452)와, 경로 지정부(41)의 출력신호선(/M400,/MIOR)에 입력단이 연결되어 있는 NOR 게이트(G453)와, 파형 정형부(43)로 부터 입력된 신호의 RMS값을 산출하는 RMS 변환부(451)와, OR 게이트(G451)의 출력신호에 따라 경로 지정부(41)의 데이터 신호(MD0∼MD2)를 저장하는 래치(452)와, 래치(452)의 출력신호(Q)에 따라 RMS 변환부(451)의 출력신호와 파형 정형부(43)의 출력신호 중에서 하나를 선택하여 전송하는 멀티플렉서(453)와, 멀티플렉서(453)의 애널로그 출력신호를 디지틀 신호로 변환하는 애널로그 디지틀 변환기(454)와, 경로 지정부(41)의 출력신호(/M400)와 NOR 게이트(G453)의 출력신호에 의해 칩선택되어 애널로그 디지틀 변환기(454)의 출력신호를 로컬 버스로 전송하는 버퍼(455)로 이루어지는 것을 특징으로 하는 펑션 테스터.

10

동작이 시작되면 1스텝이 시퀀스 데이터를 입력하고, 입력된 시퀀스 데이터가 스위치 명령인지를 판단하여 스위치 명령일 경우에는 스위치 보드를 구동하고, 입력된 시퀀스 데이터가 측정 명령인지를 판단하여 측정 명령일 경우에는 측정 보드를 구동하고, 입력된 시퀀스 데이터가 멀티플렉스 명령인지를 판단하여 멀티플렉스 명령일 경우에는 멀티플렉서 보드를 구동하고, 입력된 시퀀스 데이터가 지연 명령인지를 판단하여 지연 명령일 경우에는 소정의 시간 동안 지연 처리를 하고, 입력된 시퀀스 데이터가 측정부분 출력명령인지를 판단하여 측정부분 출력명령일 경우에는 검사 대상물의 현재 측정되는 부분을 출력하고, 입력된 시퀀스 데이터가 모델명출력 명령인지를 판단하여 모델명출력 명령일 경우에는 검사 대상물의 모델 이름을 출력하고, 입력된 시퀀스 데이터가 동작종료 명령인지를 판단하여 동작종료 명령일 경우에 검사 결과를 이용하여 검사 대상물이 전체적으로 정상인지 아니면 불량인지를 판정한 뒤에 검사 동작을 종료하는 루틴으로 이루어지는 것을 특징으로 하는 펑션 테스터의 구동방법.


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